各物質の放射率｜赤外線サーモグラフィ｜日本アビオニクス

37 酸化マグネシウム 0. 10~0. 43 8 0 N i. 2 0 C r 0. 35 ― 6 0 N i. 2 4 F e. 1 6 C r 0. 36 ― 白金 0. 30 0. 38 9 0 P t. 1 0 R h 0. 27 ― パラジウム 0. 33 0. 38 バナジウム 0. 35 ビスマス 0. 29 ― ベリリウム 0. 61 0. 61 マンガン 0. 59 0. 59 モリブデン 0. 40 ロジウム 0. 24 0. 30 放射率(λ=0. 9μm) 金属 放射率 アルミニウム 0. 23 金 0. 015~0. 02 クローム 0. 36 コバルト 0. 28~0. 30 鉄 0. 33~0. 36 銅 0. 03~0. 06 タングステン 0. 38~0. 42 チタン 0. 50~0. 62 ニッケル 0. 26~0. 35 白金 0. 30 モリブデン 0. 36 合金 放射率 インコネルX 0. 40~0. 60 インコネル600 0. 28 インコネル617 0. 29 インコネル 0. 85~0. 93 インコロイ800 0. 29 カンタル 0. 80~0. 90 ステンレス鋼 0. 3 ハステロイX 0. 3 半導体 放射率 シリコン 0. 69~0. 71 ゲルマニウム 0. 赤外用窓板（シリコン） | シグマ光機株式会社. 6 ガリウムヒ素 0. 68 セラミックス 放射率 炭化珪素 0. 83 炭化チタン 0. 47~0. 50 窒化珪素 0. 89~0. 90 その他 放射率 カーボン顔料 0. 90~0. 95 黒鉛 0. 87~0. 92 放射率(λ=1. 55μm) アルミニウム 0. 09~0. 40 クローム 0. 34~0. 80 コバルト 0. 65 銅 0. 05~0. 80 金 0. 02 綱板 0. 30~0. 85 鉛 0. 65 マグネシウム 0. 24~0. 75 モリブデン 0. 80 ニッケル 0. 85 パラジュム 0. 23 白金 0. 22 ロジウム 0. 18 銀 0. 04~0. 10 タンタル 0. 80 錫 0. 60 チタン 0. 80 タングステン 0. 3 亜鉛 0. 55 黄銅 0. 70 クロメル, アルメル 0. 80 コンスタンタン, マンガニン 0. 60 インコネル 0. 85 モネル 0. 70 ニクロム 0.

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• 赤外用窓板（シリコン） | シグマ光機株式会社
• 膜厚計測、厚さに適した測定、解析方法 | 日本分光株式会社
• 赤外線の雲・大気に対する透過率 -赤外線は波長の範囲がある程度あり、近赤外- | OKWAVE

放射温度計でシリコンの温度は測定できますか？ | ジャパンセンサー株式会社

放射温度計でシリコンの温度は測定できますか? 【放射温度計について】 PDF:TM05320_ir_thermometer_semiconductor 【半導体の測定】 シリコン(Si)、ゲルマニウム(Ge)、ガリウム・ヒ素(GaAs)等の半導体は室温においては赤外線を透過 します。つまり放射率が低いため温度測定が困難です。 しかし、温度が高くなるにつれて放射率が高くなり、Si は約600℃で0. 6 程度になります。 600℃以下の温度を測定するためには、測定波長は1. 放射温度計でシリコンの温度は測定できますか？ | ジャパンセンサー株式会社. 1μm 以下または6. 5μm 以上で行う必要があります。 1. 1μm 以下の測定波長では温度による放射率の変化が少ないため、安定した温度測定が可能ですが 測定下限は400℃程度となります。一方6. 5μm 以上の測定波長では、100℃以下の測定も可能ですが 温度による放射率の変化が大きいため測定誤差が大きくなります。 Si 分光放射率の温度依存性

赤外用窓板（シリコン） | シグマ光機株式会社

69 研磨した薄鋼板 950~1100 0. 55~0. 61 ニッケルプレートした薄鋼板 0. 11 みがいた薄鋼板 750~1050 0. 56 圧延した薄鋼板 0. 56 圧延したステンレス鋼 700 0. 45 砂吹きしたステレンス鋼 0. 70 鋳鉄 鋳物 0. 81 インゴット 1000 0. 95 溶解した鋳鉄 1300 600℃で酸化した鋳鉄 0. 64~0. 78 みがいた鋳鉄 200 0. 21 スズ みがいたスズ チタン 540℃で酸化したチタン 0. 40 0. 50 みがいたチタン 0. 15 0. 20 0. 36 タングステン 0. 05 0. 16 タングステンフィラメント 3300 0. 39 亜鉛 400℃で酸化した亜鉛 400 酸化した面 1000~1200 0. 50~0. 60 みがいた亜鉛 200~300 0. 05 亜鉛薄板 ジルコニウム 酸化ジルコニウムの粉末 0. 16~0. 20 ケイ酸ジルコニウムの粉末 0. 36~0. 42 ガラス 20~100 0. 91~0. 94 250~1000 0. 72~0. 87 1100~1500 0. 67~0. 70 しものついたガラス 0. 96 石膏 0. 80~0. 90 石灰 0. 30~0. 40 大理石 みがいた灰色がかった大理石 0. 93 雲母 厚い層 0. 72 磁器 上薬をかけた磁器 0. 92 白く輝いている磁器 0. 70~0. 75 ゴム かたいゴム 表面のざらざらしたやわらかい灰色のゴム 0. 86 砂 シェラック 光沢のない黒いシェラック 75~150 0. 91 すゞ板に塗った輝く黒いシェラック 0. 82 シリカ 粒状のシリカ粉末 0. 48 シリカゲルの粉末 0. 30 スラッグ ボイラーのもの 0~100 0. 93~0. 97 200~500 0. 89 600~1200 0. 76 化粧しっくい ざらざらした石灰のもの 10~90 タール 0. 79~0. 84 タール紙 0. 93 れんが 赤くざらざらしたれんが 0. 88~0. 93 耐火粘土れんが 0. 85 0. 膜厚計測、厚さに適した測定、解析方法 | 日本分光株式会社. 75 1200 0. 59 銅玉の耐火れんが 0. 46 強く光を発する耐火れんが 弱く光を発する耐火れんが 0. 65~0. 75 シリカ(95%SiO2)れんが 1230 0.

膜厚計測、厚さに適した測定、解析方法 | 日本分光株式会社

45 ~ 2の範囲内にあるのに対し、赤外透過材料のそれは1. 38 ~ 4の範囲内になります。多くの場合、屈折率と比重は正の相関関係をとるため、赤外透過材料は可視光透過材料よりも一般に重くなります。しかしながら、屈折率が高いとより少ないレンズ枚数で回折限界性能を得ることができるようになるため、光学系全体としての重量やコストを削減することができます。 分散 分散は、材料の屈折率が光の波長によってどの程度変わるのかを定量化します。分散によって、色収差として知られる波長の分離する大きさも決定されます。分散の大きさは、定量的にアッベ数 (v d)の大きさに反比例します。アッベ数は、電磁波のF線 (486. 1nm), d線 (587. 6nm), 及びC線 (656.

赤外線の雲・大気に対する透過率 -赤外線は波長の範囲がある程度あり、近赤外- | Okwave

赤外線は波長の範囲がある程度あり、近赤外、中間赤外、遠赤外という風によく分類されますが それぞれの雲に対する透過率について教えてください。 (雲の厚さにもよるとは思いますが・・・) また透過すると仮定した場合 たとえば宇宙から地球上の局所的な高温領域(火山や火災現場)の特定というのは可能なのでしょうか? (あるいはすでに行われているのでしょうか?) また地球大気に対しては距離に対してどの程度減衰するのでしょうか? 特に雲に関して知りたいのですが、大気に関してだけでもかまいませんのでよろしくお願いいします。 カテゴリ 学問・教育 自然科学 物理学 共感・応援の気持ちを伝えよう! 回答数 1 閲覧数 2038 ありがとう数 2

概要 光学的な膜厚計測は、誘電体膜や半導体膜と様々な物性の膜に適応可能であり、サブnmから数µmの膜厚までの広い計測範囲を持つという優れた特長があります。さらに、非破壊・非接触で計測できることから広く用いられています。それぞれの膜圧測定、解析方法と解析方法には原理上の違いがあるので、予測される膜厚・膜の層数や膜と基板の材質に合わせて、適切に選択することが重要です。 エリプソメトリ×多層膜解析法による膜厚計測(1~数100nm) 偏光状態の変化とΔΨの関係 エリプソメトリは、反射光の偏光状態の変化からΔ、Ψを求めます。偏光状態は測定波長よりも極めて薄い膜においても変化するため、可視光によって数nmの膜厚から測定することが可能です。Si基板上の自然酸化膜は1. 79nmと評価されています。 4インチSiウェーハ上のシリコン窒化膜厚分布 右図は、4インチSiウェーハ上のシリコン窒化膜の膜厚分布を測定した例です。平均膜厚は90. 2nm、平均屈折率は2.